韩国先锋XRF2000镀层测厚仪
X光无损测厚仪检测电子电镀,化学镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯...
X光无损测厚仪仪器功能
全自动台面
自动雷射对焦
多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品)
测量样品高度不超过4cm(亦有10CM可选)
镀层厚度测试范围:0.04-35um
可测试单层,双层,多层及合金镀层厚度
每层镀层都可分开显示各自厚度.
测量时间:10-30秒
X光无损测厚仪精度控制:
**层:±5%以内
第二层:±8%以内
第三层:±12%以内
了解更多关于X光无损测厚仪详细信息,欢迎访问:
www.jc-yq.com/fhx2030-Products-6414763/
www.gkzhan.com/st110680/product_6414763.html